[发明专利]微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法有效
| 申请号： | 201510066892.X | 申请日： | 2015-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN104569974B | 公开（公告）日： | 2017-05-03 |
| 发明（设计）人： | 王东进;孟青泉;郭圆月;陆广华;刘波;田超 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 | 代理人： | 郑立明,郑哲 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法，该方法通过阵元相对位置矢量的模长与相位在取值范围内分布的均匀性来描述阵元排布随机性；由于辐射阵元的空间排布越随机，阵元分布熵越大，可以有效对阵元空间排布的随机性进行定量表征，并且以阵元分布熵最大为准则，采用优化算法可得到最优的阵元空间排布，进而实现高分辨率成像。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 凝视 关联 成像 系统 随机 辐射 排布 定量 表征 方法 | ||
【主权项】：
一种微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法，其特征在于，该方法包括：根据阵元的位置坐标，计算所有阵元中任意两个不同阵元的相对位置矢量的模长与相位，获得相对位置矢量的模长集合与相位集合；根据模长集合与相位集合的取值区间进行均匀分割，获得若干对应的子区间；确定模长集合中模长元素与相位集合中相位元素落入到每个子区间的个数，进而计算模长与相位分布的归一化概率；根据计算到的模长与相位分布的归一化概率来计算模长与相位的分布熵；对计算到的模长与相位的分布熵进行加权求和运算，获得用于定量表征阵元排布的随机性的阵元分布熵。
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