[发明专利]一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置，其特征在于：包括含有光谱仪的控制器、光学探头Ⅰ、二维移动架、透镜夹具、光学探头Ⅱ、支架以及计算机，所述光学探头Ⅰ、二维移动架和光学探头Ⅱ均固定在支架上，所述透镜夹具装卡在二维移动架上，所述控制器通过光纤分别与光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ相连，所述二维移动架位于两个光学探头之间，所述计算机通过数据线与含有光谱仪的控制器相连接。本发明的有益效果是：1、每个光学探头只需探测返回波长的第一峰，解决了在镜片镀膜情况下需要辨认假峰存在的问题，可以实现对镀膜镜片进行厚度的测量；2、利用了两个光学探头，减去了因光进入透镜内发生折射反射等产生的误差，提高了测量的精度；3、可以用在双面可反射但不透明的物体的厚度测量，拓宽了基于共焦法测量的测量范围。

主权项

一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置，其特征在于：包括含有光谱仪的控制器、光学探头Ⅰ、二维移动架、透镜夹具、光学探头Ⅱ、支架以及计算机，所述光学探头Ⅰ、二维移动架和光学探头Ⅱ均固定在支架上，所述透镜夹具装卡在二维移动架上，所述含有光谱仪的控制器通过光纤分别与光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ相连，所述光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ正对设置且两个光学探头的中心位于同一轴线上，所述二维移动架位于两个光学探头之间，且二维移动架与两个光学探头的中心轴线相垂直，所述计算机通过数据线与含有光谱仪的控制器相连接，用以接收数据。