[发明专利]一种基于铜纳米线的铜铜键合工艺有效
申请号: | 201510075419.8 | 申请日: | 2015-02-12 |
公开(公告)号: | CN104637831B | 公开(公告)日: | 2017-06-27 |
发明(设计)人: | 廖广兰;独莉;史铁林;谭先华;宿磊;陈鹏飞;沈俊杰;汤自荣 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/603 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 廖盈春 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种铜纳米线的铜铜键合工艺。在基片表面依次沉积粘附层和种子层;在种子层上制备一层光刻胶,并在光刻胶上制作圆孔;在圆孔中电镀铜,得到铜凸点;利用水热法在铜凸点表面生长Cu(OH)2纳米线;去除残余的光刻胶;对Cu(OH)2纳米线进行热分解,得到CuO纳米线;对CuO纳米线进行还原,得到铜纳米线;利用上述步骤分别在两个基片上制得铜纳米线,通过热压方式对这两个基片上的铜纳米线进行键合。本发明通过还原制得铜纳米线,直接应用于后续键合,避免了额外的去氧化层步骤,能在较低的温度和压力下得到致密的键合层,且制备工艺简单,无需复杂的设备,成本低,具有极大的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纳米 铜铜键合 工艺 | ||
【主权项】:
一种基于铜纳米线的铜铜键合工艺,其特征在于,包括如下步骤:(1)在基片表面依次沉积粘附层和种子层;其中,种子层材料为Cu或Au;(2)在种子层上制备一层光刻胶,并在光刻胶上制作圆孔;(3)在圆孔中电镀铜,得到铜凸点;其中,铜凸点的厚度不大于光刻胶的厚度;(4)利用水热法在铜凸点表面生长Cu(OH)2纳米线,其中,水热法的反应溶液为NaOH与(NH4)2S2O8的混合溶液,NaOH与(NH4)2S2O3的混合溶液,或者NaOH与K2S2O8的混合溶液;得到的Cu(OH)2纳米线的直径为20~200nm,Cu(OH)2纳米线所在膜层的厚度为500nm~10μm;(5)去除残余的光刻胶;(6)对Cu(OH)2纳米线进行热分解,得到CuO纳米线;(7)对CuO纳米线进行还原,得到铜纳米线;(8)利用上述步骤(1)~(7)分别在两个基片上制得铜纳米线,通过热压方式对这两个基片上的铜纳米线进行键合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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