[发明专利]一种具有部分复合埋层的SOI耐压结构在审

专利信息
申请号: 201510076359.1 申请日: 2015-02-12
公开(公告)号: CN104659102A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: 胡盛东;陈银晖;金晶晶;周峰;陈宗泽;黄野 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明公开了一种具有部分复合埋层的SOI耐压结构,包括P/N衬底1、设置在P/N衬底上的部分复合埋氧层4和设置在部分复合埋氧层上的有源顶硅层2,所述部分复合埋氧层4包括并列设置的埋氧层3和复合埋层,所述复合埋层包括设置在P/N衬底上的底层埋氧层7、设置底层埋氧层上的中间多晶硅层6和设置在中间多晶硅层上的首层埋氧层5。本发明在常规的SOI耐压结构基础上,将埋氧层的一部分替换为“首层氧化层-中间多晶硅层-底层氧化层”的复合埋层结构。关态时复合埋层与埋氧层界面位置出现新电场峰,因而击穿电压更高,且满足RESURF条件的有源顶层硅内杂质浓度更高,开态导通电阻更低。另外,由于多晶硅热导率高于氧化硅,本结构导热性能更好。
搜索关键词: 一种 具有 部分 复合 soi 耐压 结构
【主权项】:
一种具有部分复合埋层的SOI耐压结构,包括P/N衬底(1)、设置在P/N衬底上的部分复合埋氧层(4)和设置在部分复合埋氧层上的有源顶硅层(2),其特征在于:所述部分复合埋氧层(4)包括并列设置的埋氧层(3)和复合埋层,所述复合埋层包括设置在P/N衬底上的底层埋氧层(7)、设置底层埋氧层上的中间多晶硅层(6)和设置在中间多晶硅层上的首层埋氧层(5)。
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