[发明专利]一种热解碳微结构电极的制作工艺及其电性能表征方法有效

专利信息
申请号: 201510076789.3 申请日: 2015-02-12
公开(公告)号: CN104627957A 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 何亮;麦立强;郝志猛;杨枭;周鹏 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 张惠玲
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种热解碳微结构电极的制作工艺及其电性能表征方法,包括紫外光刻、热解碳化、掩膜制作、金属电极沉积、剥离浮脱和电性能表征,利用光刻胶的感光性能,通过紫外光刻工艺、半导体加工工艺、惰性气氛下的热解碳化工艺以制作图案化的热解碳微结构;然后通过掩膜制作、金属电极沉积、剥离浮脱工艺,使拟制作电极的部位精确得到电极,制作成与碳微结构相集成的金属电极;通过四探针法,对电性能进行表征。本发明提出了一种基于C-MEMS的优化工艺以制作图案化的热解碳微结构,该工艺融合利用了半导体领域的相关技术与四探针法,工艺简洁、相关技术成熟,可应用于大规模生产,所得到的热解碳微结构有着较好的电性能。
搜索关键词: 一种 热解碳 微结构 电极 制作 工艺 及其 性能 表征 方法
【主权项】:
一种热解碳微结构电极的制作工艺及其电性能表征方法,其特征在于,包括紫外光刻、热解碳化、掩膜制作、金属电极沉积、剥离浮脱和电性能表征,利用光刻胶的感光性能,通过紫外光刻工艺、半导体加工工艺、惰性气氛下的热解碳化工艺以制作图案化的热解碳微结构;然后通过掩膜制作、金属电极沉积、剥离浮脱工艺,使拟制作电极的部位精确得到电极,制作成与碳微结构相集成的金属电极;通过四探针法,对其电性能进行表征。
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