[发明专利]温度测量装置在审
| 申请号： | 201510077158.3 | 申请日： | 2011-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN104614096A | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 清水兴子 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01K13/00 | 分类号： | G01K13/00;G01K7/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;马建军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种温度测量装置，该温度测量装置具有：与被测量体接触的基材；以及温度测量部，其具有用于测量所述基材的外表面上或内部的第1测量点处的第1温度传感器、用于测量所述基材的外表面上或内部的第2测量点处的第2温度传感器、以及用于测量所述基材的外表面上或内部的第3测量点处的第3温度传感器，在所述基材的周围温度不同的情况下，测量所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，根据所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，计算所述被测量体的深部温度。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种温度测量装置，其特征在于，该温度测量装置具有：与被测量体接触的基材；以及温度测量部，其具有用于测量所述基材的外表面上或内部的第1测量点处的第1温度的第1温度传感器、用于测量所述基材的外表面上或内部的第2测量点处的第2温度的第2温度传感器、以及用于测量所述基材的外表面上或内部的第3测量点处的第3温度的第3温度传感器，在所述基材的周围温度不同的情况下，测量所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，根据所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，计算所述被测量体的深部温度。
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