[发明专利]shmoo测试中标定设定值和测量值的方法在审
| 申请号： | 201510079566.2 | 申请日： | 2015-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN104678289A | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 王玉龙;牛勇;邵嘉阳;凌俭波;郝丹丹;王华 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种shmoo测试中标定设定值和测量值的方法，包括以下步骤：选定被测芯片的一个或多个参数；设定所述参数的设定值范围及步进，根据所述步进及所述设定值范围对所述参数进行扫描；显示shmoo测试结果图。在shmoo测试结果图中直接标记出所述参数的设定值范围、设定值的步进以及所述参数的测量值，无需程序工程师查询程序代码确认，使得技术人员在shmoo测试过程中对所述shmoo测试结果图分析时，对所述参数的设定值与测量值之间的差异一目了然，提高了技术人员确定所述参数的最佳设定值的速度，从而提高了效率，并且降低了人为出错的风险。 | ||
| 搜索关键词： | shmoo 测试 标定 设定值 测量 方法 | ||
【主权项】：
一种shmoo测试中标定设定值和测量值的方法，其特征在于，包括以下步骤：选定被测芯片的一个或多个参数；设定所述参数的设定值范围及步进，根据所述步进及所述设定值范围对所述参数进行扫描；显示shmoo测试结果图，所述shmoo测试结果图中包括：所述设定值范围、所述步进、芯片测试通过时所述参数的设定值、测试失败时所述参数的设定值以及所述参数的测量值。
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