[发明专利]一种改善形貌的深沟槽制造方法及深沟槽有效
申请号: | 201510080704.9 | 申请日: | 2015-02-15 |
公开(公告)号: | CN104658914B | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
发明(设计)人: | 李昊 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/06 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 殷晓雪 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种改善形貌的深沟槽制造方法,包括:在外延层上形成ONO层;穿透ONO层并在外延层中形成沟槽的第一部分;在沟槽的第一部分的侧壁形成侧墙;在沟槽的第一部分的底部向下刻蚀,新刻蚀的区域称为沟槽的第二部分,沟槽的第一部分和第二部分的总和构成了完整的沟槽;在沟槽的第二部分的侧壁和底部热氧化生长出第四氧化硅;先去除第四氧化硅和侧墙,再去除ONO层中的第二氧化硅和第一氮化硅,仅保留第一氧化硅。本申请通过一次光刻和两次沟槽刻蚀以改善沟槽形貌,最终提升了沟槽型超级结器件的反向击穿电压。 | ||
搜索关键词: | 一种 改善 形貌 深沟 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种改善形貌的深沟槽制造方法,其特征是,包括如下步骤:第1步,在外延层上形成ONO层,所述ONO层自下而上包括第一氧化硅、第一氮化硅、第二氧化硅;第2步,采用光刻和干法刻蚀工艺穿透ONO层并在外延层中形成沟槽的第一部分所述沟槽的第一部分的深度相当于沟槽总深度的一半;第3步,在硅片表面依次形成第三氧化硅和第二氮化硅,再采用干法反刻第二氮化硅和第三氧化硅从而在沟槽的第一部分的侧壁形成侧墙;第4步,在沟槽的第一部分的底部向下刻蚀,新刻蚀的区域称为沟槽的第二部分,沟槽的第一部分和第二部分的总和构成了完整的沟槽;第5步,在沟槽的第二部分的侧壁和底部热氧化生长出第四氧化硅;所耗费的硅使得沟槽的第二部分的底部宽度等于沟槽的第一部分的底部宽度,沟槽的第二部分的开口宽度等于沟槽的第一部分的开口宽度;第6步,先去除第四氧化硅和侧墙,再去除ONO层中的第二氧化硅和第一氮化硅,仅保留第一氧化硅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造