[发明专利]一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统及方法在审
| 申请号： | 201510082926.4 | 申请日： | 2015-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN105987807A | 公开（公告）日： | 2016-10-05 |
| 发明（设计）人： | 张扣文;鲁丁;李强;余梦璐 | 申请（专利权）人： | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244 | 代理人： | 孟湘明 |
| 地址： | 315400 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统，包括：一镜头装置，用于增大一VCSEL阵列成像距离；一图像采集装置，用于采集所述VCSEL阵列成像；和一分析判断装置，用于分析判断所述图像采集装置采集的所述VCSEL阵列成像的信息，判断所述VCSEL阵列是否存在坏点。一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测方法，包括如下步骤：(A)提供一镜头装置，设置于一VCSEL阵列的发光单元前方位置，使得所述VCSEL阵列的成像距离增大；(B)提供一图像采集装置，采集所述VCSEL阵列通过所述镜头装置的成像；和(C)提供一分析判断装置，分析所述图像采集装置采集的所述VCSEL阵列成像信息，判断所述VCSEL阵列是否存在坏点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 垂直 发射 激光器 阵列 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统，其特征在于，包括：一镜头装置，用于增大一VCSEL阵列成像距离；一图像采集装置，用于采集所述VCSEL阵列成像；和一分析判断装置，用于分析判断所述图像采集装置采集的所述VCSEL阵列成像的信息，判断所述VCSEL阵列是否存在坏点。
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