[发明专利]三维转角测量方法及其装置有效
| 申请号： | 201510083944.4 | 申请日： | 2015-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN104697472B | 公开（公告）日： | 2018-01-19 |
| 发明（设计）人： | 杨东来;白建明;胡晓东;于芳苏;赵小东;孙国燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人： | 杨亚婷 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种三维转角测量方法及其装置，包括一个由两个二维自准直仪构成的测量装置本体和一个反射部件即合作目标。测量时，测量装置中的第一自准直仪瞄准反射部件正反射面，通过光学自准直测量原理测量出反射部件正反射面的两维角度变化量；同理，第二自准直仪测量出反射部件斜反射面的两维角度变化量。三维测量装置的数据处理中心接收到这些角度信息后，根据公式即可解算出三维转角的角度值，实现了被测物体在空间的三维姿态变化量，具有实现方式简单、技术成熟可靠、安装操作方便的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 转角 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种三维转角测量装置，其特征在于：包括反射部件、第一自准直仪、第二自准直仪，所述反射部件安装在被测物体上，所述反射部件包括正反射面和斜反射面，所述正反射面和斜反射面的夹角为θ，5°≤θ≤20°，所述第一自准直仪与第二自准直仪的夹角也为θ，所述第一自准直仪正对正反射面且第一自准直仪的光轴与正反射面垂直，所述第二自准直仪正对斜反射面且第二自准直仪的光轴与斜反射面垂直。
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