[发明专利]薄膜晶体管有效
申请号: | 201510085512.7 | 申请日: | 2015-02-16 |
公开(公告)号: | CN105990448B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 王永庆 | 申请(专利权)人: | 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司;瀚宇彩晶股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/51 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;丛芳 |
地址: | 210038 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种薄膜晶体管,其包括栅极、第一栅极介电层、第二栅极介电层、通道层、源极和漏极。栅极设置在基板上。第一栅极介电层设置在栅极及基板上,第一栅极介电层的硅氢键含量与氮氢键含量的比值介于0.2与1.0之间。第二栅极介电层设置在第一栅极介电层上,第二栅极介电层的硅氢键含量与氮氢键含量的比值介于0.01与0.2之间。通道层设置在第二栅极介电层上。源极和漏极设置在通道层上且位于通道层的相对两侧。本发明的薄膜晶体管应用在显示面板上,可提升显示面板中像素的反应速度,进而改善画面残影的问题。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括:栅极,其设置在基板上;第一栅极介电层,其设置在所述栅极和所述基板上且直接接触所述栅极,所述第一栅极介电层的硅氢键含量与氮氢键含量的比值介于0.2与1.0之间;第二栅极介电层,其直接设置在所述第一栅极介电层上,所述第二栅极介电层的硅氢键含量与氮氢键含量的比值介于0.01与0.2之间;通道层,其设置在所述第二栅极介电层上且直接接触所述第二栅极介电层;以及源极和漏极,其均设置在所述通道层上,所述源极和所述漏极位于所述通道层的相对两侧,且所述源极与所述漏极之间具有间隔;其中,所述第二栅极介电层的厚度介于300埃与750埃之间,所述第一栅极介电层的厚度与所述第二栅极介电层的厚度的和介于2000埃与4000埃之间,所述第一栅极介电层的介电常数介于5与7之间,且所述第二栅极介电层的介电常数介于6与7之间。
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