[发明专利]等离子光谱分析方法有效

专利信息
申请号: 201510086901.1 申请日: 2015-02-17
公开(公告)号: CN104865239B 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 田中贵茂;白木裕章;工藤晃嗣 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N21/67 分类号: G01N21/67
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供等离子光谱分析方法,使得等离子发光的再现性高。作为解决手段,本发明的等离子光谱分析方法特征在于,其包括检测通过施加电压而产生的等离子的发光的检测工序和不检测等离子的发光的非检测工序,反复进行所述检测工序和所述非检测工序,在所述检测工序中,交替地进行产生等离子的等离子产生工序和不产生等离子的等离子非产生工序。由此,能够提高等离子发光的再现性。
搜索关键词: 等离子 光谱分析 方法
【主权项】:
1.一种等离子光谱分析方法,其特征在于,该等离子光谱分析方法包括以下工序:检测工序,通过使用电极的电压施加使容器中产生气泡,并检测在所述气泡中产生的等离子的发光,所述容器中填充有包含样本的导电性溶液;以及非检测工序,不检测等离子的发光,反复进行所述检测工序和所述非检测工序,在所述检测工序中,交替地进行产生等离子的等离子产生工序和不产生等离子的等离子非产生工序,由此控制所述气泡的产生和成长。
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