[发明专利]能够自动测量至少一个参数的方法和装置在审
申请号: | 201510087262.0 | 申请日: | 2015-02-25 |
公开(公告)号: | CN104977539A | 公开(公告)日: | 2015-10-14 |
发明(设计)人: | 吴瑞骐;李吉明 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/36 | 分类号: | G01R31/36 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 张金芝;代峰 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种能够自动测量至少一个参数的方法和装置及非暂时性计算机可读介质。方法包含启动电子装置上的自动程序/应用;以及使用自动程序/应用以测量至少一个参数,至少一个参数至少与连接到电子装置的电池单元关联,且用于为电子装置提供电量。本发明利用上述方案可以有效地测量电池参数。 | ||
搜索关键词: | 能够 自动 测量 至少 一个 参数 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种能够自动测量至少一个参数的方法,所述方法应用于电子装置,其特征在于,所述方法包含:启动所述电子装置上的自动程序/应用;以及使用所述自动程序/应用以测量所述至少一个参数,所述至少一个参数至少与所述连接到所述电子装置的电池单元关联,且用于为所述电子装置提供电量。
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