[发明专利]温度测量装置、集成电路及温度测量方法

摘要

本发明提供了温度测量装置、集成电路及温度测量方法。在第一电流相对于第一半导体元件的pn结正向流动并且幅值与第一电流不同的第二电流相对于第二半导体元件的pn结正向流动的第一感测状态下，第一半导体元件的pn结的正向电压与第二半导体元件的pn结的正向电压之间的差由计算机转换成数字值并且获取该数字值作为第一数字值。在第二电流相对于第一半导体元件的pn结正向流动并且第一电流相对于第二半导体元件的pn结正向流动的第二感测状态下，第一半导体元件的pn结的正向电压与第二半导体元件的pn结的正向电压之间的差由计算机转换成数字值并且获取该数字值作为第二数字值。由计算机基于第一数字值和第二数字值的平均值来计算温度测量值。

主权项

1.一种温度测量装置，包括：包括各自的pn结的第一半导体元件和第二半导体元件；第一电流输出部，所述第一电流输出部被配置成根据提供至电流控制端的控制电压来输出第一电流和幅值与所述第一电流不同的第二电流；第一连接切换部，所述第一连接切换部被配置成切换所述第一半导体元件和所述第二半导体元件与所述第一电流输出部的连接，以给出所述第一电流相对于所述第一半导体元件的pn结正向流动并且所述第二电流相对于所述第二半导体元件的pn结正向流动的第一感测状态或所述第一电流相对于所述第二半导体元件的pn结正向流动并且所述第二电流相对于所述第一半导体元件的pn结正向流动的第二感测状态中的任一种状态；AD转换器，所述AD转换器被配置成在所述第一感测状态下将所述第一半导体元件的pn结的正向电压与所述第二半导体元件的pn结的正向电压之间的差转换成数字值并且将所转换的数字值作为第一数字值输出，并且被配置成在所述第二感测状态下将所述第一半导体元件的pn结的正向电压与所述第二半导体元件的pn结的正向电压之间的差转换成数字值并且将所转换的数字值作为第二数字值输出；计算部，所述计算部被配置成基于所述第一数字值和所述第二数字值的平均值来计算温度测量值；第一电阻器元件，所述第一电阻器元件被配置成根据所述第一半导体元件中流动的电流来引起电压降；以及，第二电阻器元件，所述第二电阻器元件被配置成根据所述第二半导体元件中流动的电流来引起电压降，其中，所述AD转换器还被配置成输出：通过将在所述第一感测状态下的所述第一电阻器元件的两端之间的电压转换成数字值而获得的第三数字值、通过将在所述第一感测状态下的所述第二电阻器元件的两端之间的电压转换成数字值而获得的第四数字值、通过将在所述第二感测状态下的所述第一电阻器元件的两端之间的电压转换成数字值而获得的第五数字值、以及通过将在所述第二感测状态下的所述第二电阻器元件的两端之间的电压转换成数字值而获得的第六数字值，以及所述计算部被配置成基于所述第三数字值与所述第四数字值之比以及所述第五数字值与所述第六数字值之比的平均值来计算校正系数，并且使用所述校正系数来校正所述第一数字值和所述第二数字值的平均值，以计算所述温度测量值。