[发明专利]一种磁共振显微成像用平面梯度线圈在审
| 申请号： | 201510090577.0 | 申请日： | 2015-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN104730476A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 李晓南;刘国强;夏慧 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号： | G01R33/385 | 分类号： | G01R33/385 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 关玲 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种磁共振显微成像用平面梯度线圈组。所述的平面梯度线圈由一组三正交方向的微型平面梯度线圈组成，所述的平面梯度线圈组从线圈结构的几何中心由内向外，依次是+-Gx、+-Gy和+-Gz六个平面线圈，基于两块相对放置的6层电路板实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁共振 显微 成像 平面 梯度 线圈 | ||
【主权项】：
一种磁共振显微成像用平面梯度线圈，其特征在于，所述的平面梯度线圈为一组三正交方向的微型平面梯度线圈组，所述的平面梯度线圈组从线圈结构的几何中心由内向外，依次是+‑Gx、+‑Gy和+‑Gz六个平面线圈，基于两块相对放置的6层电路板实现。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所;，未经中国科学院电工研究所;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510090577.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
