[发明专利]一种集成电路功耗测试系统和方法在审
| 申请号： | 201510091782.9 | 申请日： | 2015-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN105988079A | 公开（公告）日： | 2016-10-05 |
| 发明（设计）人： | 方向明;杨志炜 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 张颖玲;蒋雅洁 |
| 地址： | 518085 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路功耗测试系统，包括：上位机、功耗测试板和集成电路测试板；其中，上位机用于设置被测集成电路的电压数据和多个工作场景数据；功耗测试板用于根据所述电压数据输出电压至集成电路测试板，并输出所述多个工作场景数据至所述集成电路测试板；还用于同步采集所述每个工作场景下被测集成电路的电流数据，并计算所述每个工作场景下被测集成电路的功耗数据；集成电路测试板用于根据所述多个工作场景数据依次对每个工作场景进行测试，并在所述每个工作场景开始的时刻输出所述每个工作场景数据至所述功耗测试板。本发明还同时公开了一种集成电路功耗测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 功耗 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，所述系统包括：上位机、功耗测试板和集成电路测试板；其中，所述上位机，用于设置被测集成电路的电压数据和多个工作场景数据，并输出所述电压数据和所述多个工作场景数据至所述功耗测试板；所述功耗测试板，用于接收所述电压数据和所述多个工作场景数据，根据所述电压数据输出电压至所述集成电路测试板，并输出所述多个工作场景数据至所述集成电路测试板；还用于接收来自所述集成电路测试板的每个工作场景数据，并同步采集所述每个工作场景下被测集成电路的电流数据，根据所述电压数据和所述电流数据计算所述每个工作场景下被测集成电路的功耗数据；所述集成电路测试板，用于接收所述电压和所述多个工作场景数据，根据所述多个工作场景数据依次对每个工作场景进行测试，并在所述每个工作场景开始的时刻输出所述每个工作场景数据至所述功耗测试板。
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