[发明专利]半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201510093121.X 申请日: 2015-03-02
公开(公告)号: CN105990432A 公开(公告)日: 2016-10-05
发明(设计)人: 富田幸太;前山贤二 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 张世俊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种半导体装置及其制造方法。本发明提供一种向半导体层施加的应力可缓和的半导体装置。本发明的半导体装置包括:第一导电型第一半导体层;第一导电型第二半导体层,设在第一半导体层上;第二导电型第三半导体层,选择性地设在第二半导体层上;第一导电型第四半导体层,设在第三半导体层上;第一电极,隔着绝缘膜设在第二、第三、第四半导体层;第二电极,设在第四半导体层上,且连接第四半导体层;第三电极,与第二电极分离,一端与第一半导体层相接,另一端位于第二半导体层表面侧;且该半导体装置包含:第二半导体层的表面、及与第三电极相接且与第二半导体层的表面相连的面,第二半导体层的表面与该面成直角或钝角。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于包括:第一导电型的第一半导体层;第一导电型的第二半导体层,设置在所述第一半导体层之上;第二导电型的第三半导体层,选择性地设置在所述第二半导体层之上;第一导电型的第四半导体层,设置在所述第三半导体层之上;第一电极,隔着绝缘膜而设置在所述第二半导体层、所述第三半导体层、及所述第四半导体层;第二电极,设置在所述第四半导体层之上,且连接于所述第四半导体层;以及第三电极,与所述第二电极分离,且一端与所述第一半导体层相接,另一端位于所述第二半导体层的表面侧;且该半导体装置包含:所述第二半导体层的所述表面、及与所述第三电极相接且与所述第二半导体层的所述表面相连的面,所述第二半导体层的所述表面与所述面所成的角是直角或钝角。
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