[发明专利]一种结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法在审
| 申请号： | 201510095611.3 | 申请日： | 2015-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN104615518A | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 刘胜 | 申请（专利权）人： | 浪潮集团有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明特别涉及一种结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法。该结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法，将rank margin测试和温度、Vdd的四角测试结合在一起，在拉偏温度和Vdd电压的情况下进行rank margin test的测试。经过对比验证，该结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法，通过增加温度和Vdd拉偏四角测试的rank margin测试可以多覆盖掉70%的漏出问题；该方法不仅能模拟实际应用中，环境温度和电压的恶劣的情况下，rank margin方面是否存在问题，还能更大量的发现在内存支持方面power、SI、layout等的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结合 温度 电压 变量 内存 rank margin 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法，其特征在于：将rank margin测试和温度、Vdd的四角测试结合在一起，在拉偏温度和Vdd电压的情况下进行rank margin test的测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浪潮集团有限公司，未经浪潮集团有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510095611.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
