[发明专利]侧边抛磨光纤及其制备方法及传感器有效

专利信息
申请号: 201510098153.9 申请日: 2015-03-05
公开(公告)号: CN104669104B 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 王义平;赵静;廖常锐 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: B24B37/02 分类号: B24B37/02;B24B37/013;B24B49/12;G01D5/26;G02B6/02
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 陈健
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种简便的侧边抛磨光纤及其制备方法及传感器。本发明通过将单模光纤无扭曲地自然拉直,并将其两端固定,然后利用粗研磨料在光纤的一侧沿光纤长度方向对光纤进行来回研磨,使研磨区的表面沿光纤长度方向形成若干划痕;在研磨过程中,实时监测光纤的传输光谱,当传输光谱形成高对比度MZI干涉光谱时停止研磨。本发明简化了光纤侧边抛磨工艺,可与现有设备兼容,同时,不需要细磨及抛光,缩短了制备时间。制备的侧边抛磨光纤的传输光谱可形成高对比度干涉光谱,无需其它后续光学结构,可直接作为传感器的敏感部应用于众多测试领域,具有结构简单、灵敏度高、响应快、使用便捷等优点。
搜索关键词: 侧边 磨光 及其 制备 方法 传感器
【主权项】:
一种侧边抛磨光纤的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:将单模光纤无扭曲地自然拉直,并将其两端固定;利用粗研磨料在所述单模光纤的一侧沿所述光纤的长度方向对所述光纤进行来回研磨,使研磨区的表面沿所述光纤的长度方向形成若干划痕,其中,所述研磨区有一平坦区,所述单模光纤在所述平坦区各处的厚度一致;在研磨过程中,实时监测所述单模光纤的传输光谱,以及,实时监测所述平坦区的表面距所述单模光纤的纤芯表面的距离;当所述传输光谱形成高对比度MZI干涉光谱时停止研磨。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳大学,未经深圳大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510098153.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code