[发明专利]片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量

摘要

片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量方法及装置，所述片上系统包括：CPU、嵌入式存储器和外围电路，电压调节器输入基准电压，向嵌入式存储器输出测试电压，电压调节器能够连接测试机台；嵌入式存储器连接数据比较器；参考数据产生器连接数据比较器；数据比较器能够连接所述测试机台；状态机连接嵌入式存储器、数据比较器和加法器/减法器，状态机能够连接所述测试机台；加法器/减法器连接电压调节器。本发明在测量片上系统芯片的嵌入式存储器最低工作电压的过程中，采用片上系统芯片内置的电压调节器来向嵌入式存储器提供测试电压，从而大大减少了每次调节测试电压之后等待电压稳定所花费的时间，显著提高了测试效率。

主权项

1.一种片上系统芯片的嵌入式存储器最低工作电压的测量方法，其特征在于，包括：通过电压调节器向嵌入式存储器提供第一电压，以所述第一电压作为测试电压，所述电压调节器输出的测试电压的电位是可以调节的；其中，所述电压调节器是所述片上系统芯片内置的，采用片上系统芯片内置的电压调节器向嵌入式存储器提供测试电压，每次调节测试电压之后等待电压稳定所花费的时间为毫秒级；在电压调节器提供的所述第一电压下对所述嵌入式存储器进行写操作；在电压调节器提供的所述第一电压下对所述嵌入式存储器进行读操作，所述读操作与所述写操作针对嵌入式存储器中相同的存储单元；通过数据比较器将所述读操作读出的数据与参考数据进行比较，判断所述读操作读出的数据与所述参考数据是否相符；若是，则将电压调节器输出的电压调节为第二电压，所述第二电压小于第一电压；若否，则将电压调节器输出的电压调节为第二电压，所述第二电压大于第一电压；循环执行上述步骤，直至获得所述嵌入式存储器的最低工作电压；其中，所述片上系统芯片能够连接外部的测试机台。