[发明专利]纳米颗粒在校准用基准的制备中的用途有效
| 申请号： | 201510098827.5 | 申请日： | 2015-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN104897649B | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | B·约翰;S·瓦科拉夫;O·约翰 | 申请（专利权）人： | 锐之康诊断有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/71 | 分类号： | G01N21/71 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 孟锐 |
| 地址： | 爱尔兰*** | 国省代码： | 爱尔兰;IE |
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| 摘要： | 本发明涉及纳米颗粒的用途，该纳米颗粒包含用于分析原子光谱技术的校准用基准的制备中的分析物，还涉及校准这类仪器的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 颗粒 校准 基准 制备 中的 用途 | ||
【主权项】：
1.一种校准使用在分析原子光谱方法中用于检测在介质中分析物的存在和/或测定在介质中分析物的浓度的仪器的方法，所述校准方法包括：提供包括纳米颗粒的校准用基准，所述校准用基准包含已知浓度的分析物，其中所述分析物分散在非水性介质中，所述非水性介质选自一种或多种有机溶剂以及润滑油、矿物或食用油；使用所述仪器测试所述校准用基准的浓度以产生所述基准的测试浓度；以及调节所述仪器以使所述测试浓度等于所述已知浓度。
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