[发明专利]一种NAND闪存的差错控制码结构及其差错码控制方法在审

专利信息
申请号: 201510098970.4 申请日: 2015-03-05
公开(公告)号: CN104932952A 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 姜小波;谭雪青 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 罗观祥
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种NAND闪存的差错控制码结构,包括码率为0.4~0.9的ECC编码器、码率为0.4~0.9的ECC译码器和NAND闪存控制器。本发明还公开了一种NAND闪存的差错控制码结构的差错码控制方法,包括以下步骤:1、根据不同工艺下的NAND闪存,获取闪存原始误码率与擦写次数的关系;2、计算当UBER低于10-15时可接受的RBER;3、根据前面获取的不同工艺下闪存擦写次数与原始误码率的关系,可以计算得出不同原始误码率RBER下闪存的擦写次数;4、计算闪存无误码积分信息容量;5、选取ECC的码率。本发明具有能够使得无误码积分容量最大和有效保证NAND闪存的长期稳定性等优点。
搜索关键词: 一种 nand 闪存 差错 控制 结构 及其 错码 方法
【主权项】:
一种NAND闪存的差错控制码结构,其特征在于,包括:码率为0.4~0.9的ECC编码器、码率为0.4~0.9的ECC译码器和NAND闪存控制器;所述的ECC编码器的数据输出端接到NAND闪存控制器的数据输入接口,ECC译码器的数据输入端与NAND闪存控制器的数据输出接口相连。
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