[发明专利]确认基板外形尺寸之方法有效
申请号: | 201510099918.0 | 申请日: | 2015-03-06 |
公开(公告)号: | CN104677279B | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
发明(设计)人: | 谢佩君;庄伟仲;张俊德;戴嘉骏 | 申请(专利权)人: | 业成光电(深圳)有限公司;英特盛科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518109 广东省深圳市龙华新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种确认基板外形尺寸之方法,其是针对现行基板外形尺寸的确认方式作一改良,其改良点包括提供一具有对应基板外形尺寸之规格的罩幕,并且利用此罩幕,以在基板上形成一外圈标志与内圈标志。之后,检测基板上是仅具有内圈标志、同时具有外圈与内圈标志、或不具有外圈与内圈标志,以确认基板之外形尺寸是否符合规格。藉由此方法,本发明有效节省了习见量测基板尺寸之设备的成本与量测时间,并有效提升其检测效益。 | ||
搜索关键词: | 确认 外形尺寸 方法 | ||
【主权项】:
一种确认基板外形尺寸之方法,用于检测一基板之外形尺寸,其特征在于,该方法包括:提供一罩幕,该罩幕上是具有对应该基板之外形尺寸之一规格;利用具有该规格之该罩幕在该基板上形成一外圈标志与一内圈标志;以直接目测的方式检测该基板上是否具有该外圈标志或该内圈标志,确认该基板之外形尺寸是否符合该规格;该罩幕是为一光罩,该外圈标志或该内圈标志是透过一微影制程以形成于该基板上。
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