[发明专利]芯片压降的测量装置及方法

摘要

本发明提供一种芯片压降的测量装置及方法。本发明提供的芯片压降的测量装置包括：设置在芯片中的压控振荡器、反相器延迟链和数据处理模块；压控振荡器用于产生时钟信号，在芯片压降发生变化时，该压控振荡器产生的时钟信号的频率随芯片压降的变化而变化；反相器延迟链与压控振荡器连接，用于测量压控振荡器在芯片处于不同工作状态时产生的时钟信号的频率；数据处理模块与反相器延迟链连接，用于根据反相器延迟链测量得到的所述压控振荡器在在芯片处于不同工作状态时产生的时钟信号的频率，获取芯片压降的变化量。本发明以解决现有技术在测量芯片压降时，由于输入的时钟信号的时间窗口是不确定的，从而导致芯片压降的测量结果不准确的问题。

主权项

1.一种芯片压降的测量装置，其特征在于，包括：设置在所述芯片中的压控振荡器、反相器延迟链和数据处理模块；所述压控振荡器用于产生时钟信号，其中，在所述芯片压降发生变化时，所述压控振荡器产生的时钟信号的频率随所述芯片压降的变化而变化；所述反相器延迟链由多个尺寸相同的反相器串联组成，并与所述压控振荡器连接，用于测量所述压控振荡器在所述芯片处于不同工作状态时产生的时钟信号的频率，所述反相器延迟链中每个反相器的延迟值相同；所述数据处理模块与所述反相器延迟链连接，用于根据所述反相器延迟链测量得到的所述压控振荡器在所述芯片处于不同工作状态时产生的时钟信号的频率，获取所述芯片压降的变化量。