[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201510101487.7 申请日: 2015-03-06
公开(公告)号: CN105990516B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 后藤善秋;赤田裕亮 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 张世俊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的实施方式提供一种磁屏蔽效果经提高的半导体装置。实施方式的半导体装置(1)具备:磁屏蔽板(3),包括基底部(31)、倾斜部(32)、及弯曲部(33),所述基底部(31)设置在衬底(2),所述倾斜部(32)从基底部(31)的端部朝向外侧斜向延伸,所述弯曲部(33)设置在倾斜部(32)的前端;半导体元件(4),接着在磁屏蔽板(3)的基底部(31)上;密封树脂层(5),密封磁屏蔽板(3)及半导体元件(4);及磁屏蔽膜(6),覆盖密封树脂层(5)的表面,与弯曲部(33)的一部分接触。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于具备:衬底;磁屏蔽板,包括基底部、倾斜部、及弯曲部,所述基底部设置在所述衬底,所述倾斜部从所述基底部的端部朝向外侧斜向延伸,所述弯曲部设置在所述倾斜部的前端;半导体元件,接着在所述磁屏蔽板的所述基底部上;密封树脂层,密封所述磁屏蔽板及所述半导体元件;以及磁屏蔽膜,覆盖所述密封树脂层的上表面及侧面,与所述弯曲部的一部分接触。
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