[发明专利]双通道计数系统及高剂量条件下剂量当量的测量方法

摘要

本发明涉及电离辐射测试技术领域，提供一种双通道计数系统、高剂量条件下剂量当量的测量方法，以解决高剂量条件下的剂量当量测量问题。该测量方法主要包括初始化双通道计数系统；分别在中能辐射场和高能辐射场进行测量；对各个条件下的测量值进行线性拟合得到插值方程。本发明提出的技术方案在一定的辐射场平均有效能量范围内，实现了半导体探测器计数线性和能量响应的同时修正。

主权项

一种双通道计数系统，其特征在于：其包括半导体探测器、电荷灵敏放大电路、第一脉冲成形电路、第一比较器、第二脉冲成形电路、第二比较器、MCU，所述第一脉冲成形电路和第二脉冲成形电路分别配置成输出不同幅度和宽度的脉冲信号，所述MCU包括用于对第一比较器的输出脉冲进行计数的第一计数器、用于对第二比较器的输出脉冲进行计数的第二计数器，所述电荷灵敏放大电路的输入端与半导体探测器连接，其输出端分别与第一脉冲成形电路的输入端和第二脉冲成形电路的输入端连接；所述第一比较器的输入端分别与第一脉冲成形电路的输出端和第一阈值电压信号源连接，所述第二比较器的输入端分别与第二脉冲成形电路的输出端和第二阈值电压信号源连接，所述第一阈值信号源的电压值与第二阈值信号源的电压值不相等；所述MCU分别与第一比较器的输出端和第二比较器的输出端连接。