[发明专利]光纤光栅传感器疲劳寿命测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201510104482.X 申请日: 2015-03-10
公开(公告)号: CN104677408B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 宋昊;王文娟;王洋;吴天 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100095*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及光纤光栅传感器疲劳寿命测试装置及方法,属传感器测试技术领域。立柱11与底座1垂直连接;调速器2与电机3连接;电机3固定于底座1的上表面;电机3与偏心圆盘5通过旋转轴4同轴连接;连杆连接器6的一端通过轴14与偏心圆盘5固定连接;另一端与连接杆7的一端固定连接;连接杆7的另一端与球形连接器8的下端连接;球形连接器8的上端与悬臂梁9的一端连接;悬臂梁9的另一端固定在立柱11的上部;光纤光栅传感器10的输出端与光纤光栅解调仪12的输入端连接;光纤光栅解调仪12的输出端与数据处理模块13的输入端连接。本发明结构简单、操作方便、制作容易,并且测试精度高。
搜索关键词: 光纤 光栅 传感器 疲劳 寿命 测试 装置 方法
【主权项】:
一种光纤光栅传感器疲劳寿命测试装置,其特征在于:其包括:底座(1)、调速器(2)、电机(3)、旋转轴(4)、偏心圆盘(5)、连杆连接器(6)、连接杆(7)、球形连接器(8)、悬臂梁(9)、光纤光栅传感器(10)、立柱(11)、光纤光栅解调仪(12)、数据处理模块(13)和轴(14);底座(1)为一水平台面;立柱(11)与底座(1)垂直,并与底座(1)固定连接,底座(1)和立柱(11)构成所述光纤光栅传感器疲劳寿命测试装置的支撑结构;调速器(2)与电机(3)的输入端连接;电机(3)固定于底座(1)的上表面;电机(3)与偏心圆盘(5)通过旋转轴(4)固定连接,并且电机(3)、旋转轴(4)和偏心圆盘(5)均同轴;轴(14)穿过偏心圆盘(5),并与偏心圆盘(5)固定连接;轴(14)的轴线与偏心圆盘(5)的轴线平行;连杆连接器(6)的一端与轴(14)固定连接,连杆连接器(6)的另一端与连接杆(7)的一端固定连接;连接杆(7)的另一端与球形连接器(8)的下端连接;球形连接器(8)的上端与悬臂梁(9)的一端连接;悬臂梁(9)的另一端固定在立柱(11)的上部;光纤光栅传感器(10)固定于悬臂梁(9)上;光纤光栅传感器(10)的输出端与光纤光栅解调仪(12)的输入端连接;光纤光栅解调仪(12)的输出端与数据处理模块(13)的输入端连接;当所述轴(14)与偏心圆盘(5)的圆心同高时,悬臂梁(9)处于水平位置;所述调速器(2)的作用是控制电机(3)的转速;所述光纤光栅传感器(10)的作用是采集悬臂梁(9)上光纤光栅传感器(10)所在位置的应变变化量;所述光纤光栅解调仪(12)的功能是将光纤光栅传感器(10)感知的应变变化量解调为光纤光栅传感器(10)的中心波长数据;所述数据处理模块(13)的功能是:①使用光纤光栅传感器(10)的中心波长数据判断光纤光栅传感器(10)是否在正常工作状态;②存储光纤光栅传感器(10)的中心波长数据;所述悬臂梁(9)的轴线与电机(3)的轴线处于同一竖直平面上;所述偏心圆盘(5)的圆心与轴(14)的中心轴的距离越小,对悬臂梁(9)产生的应变越小;偏心圆盘(5)的圆心与轴(14)的中心轴的距离越大,对悬臂梁(9)产生的应变越大;使用所述的光纤光栅传感器疲劳寿命测试装置测试光纤光栅传感器(10)疲劳寿命的具体操作步骤为:步骤1:检测光纤光栅传感器(10)信号是否正常;如果正常,继续步骤2的操作;步骤2:根据试验需求,确定偏心圆盘(5)的圆心与轴(14)的中心轴的距离;步骤3:将调速器(2)的输出置于(0,0.5]转/秒的状态,打开电机(3)开关;步骤4:确定试验频率f和疲劳试验时间T,调整调速器(2)的输出频率为试验频率f,开始疲劳试验;步骤5:在调速器(2)的控制下,电机(3)带动旋转轴(4)和偏心圆盘(5)做同轴旋转;悬臂梁(9)通过球形连接器(8)、连接杆(7)、连杆连接器(6)和轴(14)与偏心圆盘(5)连接,因此偏心圆盘(5)的转动带动悬臂梁(9)做周期性运动;光纤光栅传感器(10)实时将监测数据发送给光纤光栅解调仪(12);所述监测数据为悬臂梁(9)上光纤光栅传感器(10)所在位置的应变变化量;步骤6:光纤光栅解调仪(12)实时将监测数据解调为光纤光栅传感器(10)的中心波长数据,并输出给数据处理模块(13);步骤7:数据处理模块(13)判断当前光纤光栅传感器(10)是否在正常工作状态;如果当前光纤光栅传感器(10)处于正常工作状态,则重复步骤5至步骤7的操作,直至到达疲劳试验时间T,结束试验;此时认为光纤光栅传感器(10)达到预期寿命;如果当前光纤光栅传感器(10)处于异常工作状态,则判断其未达到预期寿命,结束试验。
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