[发明专利]半导体装置及其控制方法在审
| 申请号： | 201510104625.7 | 申请日： | 2015-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN104917501A | 公开（公告）日： | 2015-09-16 |
| 发明（设计）人： | 长内洋介;小石步生 | 申请（专利权）人： | 丰田自动车株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/567 | 分类号： | H03K17/567 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 黄威;董领逊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体装置及其控制方法。所述半导体装置包括晶体管(121)、二极管(122)、第一检测电路(152)、第二检测电路(153)、计算电路(154)以及判定电路(155)。二极管与晶体管反向并联连接。第一检测电路被配置为检测晶体管的栅电压关于时间的变化率。第二检测电路被配置为检测晶体管的栅电流。计算电路被配置为基于栅电压关于时间的变化率和栅电流来计算栅电容。判定电路被配置为基于在注入电荷至晶体管的栅极时的栅电容的判定结果，来判定电流是流向二极管还是流向晶体管。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，其特征在于包括：晶体管(121)；二极管(122)，其与所述晶体管反向并联连接；第一检测电路(152)，其被配置为检测所述晶体管的栅电压关于时间的变化率；第二检测电路(153)，其被配置为检测所述晶体管的栅电流；计算电路(154)，其被配置为基于所述栅电压关于时间的所述变化率和所述栅电流来计算栅电容；以及判定电路(155)，其被配置为基于在注入电荷至所述晶体管的栅极时的所述栅电容的判定结果，来判定电流是流向所述二极管还是流向所述晶体管。
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