[发明专利]用于测试电子元件的装置在审
| 申请号： | 201510105513.3 | 申请日： | 2015-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN104914323A | 公开（公告）日： | 2015-09-16 |
| 发明（设计）人： | 沃克·雷克莫泽;格哈德·格斯克温德博格 | 申请（专利权）人： | 分类测试电子系统公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 瞿卫军;王莹 |
| 地址： | 德国罗*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试电子元件(4)的装置，具有：至少一个测试插座(1)，带有测试接触部(2)，带有槽件(3)，在所述槽件中可放置至少一个电子元件(4)；及用于测试插座(1)的测试接触部(2)的至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)，其中，通过在测试插座(1)与槽件(3)之间作为测试进程实施的相对移动，所述电子元件(4)压在测试插座(1)的测试接触部(2)上，且可再次从测试接触部上抬起。根据本发明，至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)这样地设计，即，在每个测试进程中，测试接触部(2)与至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)接触。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子元件 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试电子元件(4)的装置，具有：至少一个测试插座(1)，带有测试接触部(2)，带有槽件(3)，在所述槽件中可放置至少一个电子元件(4)；及用于测试插座(1)的测试接触部(2)的至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)，其中，通过在测试插座(1)与槽件(3)之间作为测试进程实施的相对移动，所述电子元件(4)压在测试插座(1)的测试接触部(2)上，且可再次从测试接触部上抬起，其特征在于，至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)这样地设计，即，在每个测试进程中，测试接触部(2)与至少一个清洁单元(6、7；8、9；10、7、9)接触。
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