[发明专利]一种极高分辨率光谱测量装置及方法有效
| 申请号： | 201510107118.9 | 申请日： | 2015-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN104697634B | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 柯昌剑;谭芷莹;罗志祥;刘德明 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人： | 廖盈春 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法，光谱测量装置包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块；FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号，FP干涉仪的第二输入端连接至控制模块的第一输出端；SBS滤波器的第一输入端连接至FP干涉仪的输出端，所述SBS滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输出端，探测器的输入端连接至SBS滤波器的第一输出端，数据采集模块的第一输入端连接至探测器的输出端，数据采集模块的第二输入端连接至SBS滤波器的第二输出端，控制模块的输入输出端连接至数据采集模块的输出输入端。本发明可以提高光谱测量分辨率的同时获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 极高 分辨率 光谱 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种极高分辨率光谱测量装置，其特征在于，包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块；所述FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号，所述FP干涉仪的第二输入端连接至所述控制模块的第一输出端；所述FP干涉仪用于将待测信号转换为分立的窄带成分；所述SBS滤波器的第一输入端连接至所述FP干涉仪的输出端，所述SBS滤波器的第二输入端连接至所述控制模块的第二输出端；所述SBS滤波器用于选择放大其中一个窄带成分并产生后向散射信号；所述探测器的输入端连接至所述SBS滤波器的第一输出端，所述数据采集模块的第一输入端连接至所述探测器的输出端，所述数据采集模块的第二输入端连接至所述SBS滤波器的第二输出端；所述后向散射信号经所述探测器后转换为电流信号，所述数据采集模块用于采集所述电流信号；所述控制模块的输入输出端连接至所述数据采集模块的输出输入端；所述控制模块用于发出信号控制所述FP干涉仪和所述SBS滤波器同步扫描，SBS增益峰对所述FP干涉仪工作的透射峰依次进行选择，使得测量范围不再局限于一个自由光谱范围，从而获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。
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