[发明专利]一种卫星材料表面光电子发射率的测量装置及其使用方法在审
| 申请号： | 201510111834.4 | 申请日： | 2015-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN106033049A | 公开（公告）日： | 2016-10-19 |
| 发明（设计）人： | 杨垂柏;关燚炳;孔令高;张珅毅;张斌全;荆涛;曹光伟;梁金宝 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 王宇杨;王敬波 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种光电子发射率的测量装置及使用此装置的方法。该测量装置包括：紫外光源、真空罐、转台、电子检测仪、控制台，其中：紫外光源用于输出测量过程所需要的紫外光束；真空罐为测试提供真空腔体空间；转台安装于真空罐的底部，用来为待测材料样品和电子检测仪及光束提供适当的配合位置；电子检测仪用来测量材料表面光电子的发射强度；控制台用来对紫外光源、电子检测仪进行数据采集，并控制待测材料样品的电位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 卫星 材料 表面 光电子 发射 测量 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
一种光电子发射率的测量装置，包括：紫外光源、真空罐、转台、电子检测仪、控制台，其中：紫外光源用于输出测量过程所需要的紫外光束；真空罐为测试提供真空腔体空间；转台安装于真空罐的底部，用来为待测材料样品和电子检测仪及光束提供适当的配合位置；电子检测仪用来测量材料表面光电子的发射强度；控制台用来对紫外光源、电子检测仪进行数据采集，并控制待测材料样品的电位。
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