[发明专利]半导体集成电路及其操作方法有效
申请号: | 201510111910.1 | 申请日: | 2015-03-13 |
公开(公告)号: | CN104916296B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 小山秀穗;黑泽稔;板垣吉弥 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G11B19/20 | 分类号: | G11B19/20 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及半导体集成电路及其操作方法。本发明实现了在不采用外部CPU进行数字校正的情况下检测电动机速度的校准操作。当零电流流过电动机时并且当臂固定时,校准操作计算与反EMF检测器电路的反EMF检测信号对应的比较基准值。因此,响应于流过电动机的非零电流,将反EMF检测器电路的反EMF检测信号设置为第一值和第二值,并且半导体集成电路从第一值和第二值计算比较基准值。通过由调节单元调节反EMF检测器电路的内部放大器的增益,减小作为反EMF检测器电路的反EMF检测信号的比较输入值和比较基准值之差。 | ||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,其被用以安装在用于驱动电动机以移动硬盘驱动单元的磁头的电动机驱动控制器中,所述半导体集成电路被操作用于:在用于加载操作或卸载操作的校准操作中,使实质上不是零电流的非零电流流过所述电动机,所述加载操作用于将所述磁头从斜坡机构移动到盘介质的表面,所述卸载操作用于将所述磁头从所述盘介质的表面移动到所述斜坡机构,其中,在用于所述加载操作的所述校准操作时,所述非零电流使安装所述磁头的支臂压贴外周限位器,或者在用于所述卸载操作的所述校准操作时,所述非零电流使安装所述磁头的所述支臂压贴内周限位器,以便使所述支臂成为固定状态,其中,所述半导体集成电路包括:电动机驱动器电路,所述电动机驱动器电路被操作用于驱动所述电动机;反电动势检测器电路,所述反电动势检测器电路被操作用于检测在所述电动机中产生的反电动势;以及调节单元,所述调节单元被操作用于调节所述反电动势检测器电路的内部放大器的增益,其中,在进行所述校准操作时,响应于所述电动机驱动器电路使所述非零电流流过所述电动机,来从所述反电动势检测器电路产生反电动势检测信号,其中,在通过所述校准操作使所述支臂是固定状态并且使实质上具有零电流值的零电流流过所述电动机的状态下,所述半导体集成电路产生与从所述反电动势检测器电路产生的所述反电动势检测信号对应的比较基准值,其中,在进行所述校准操作时,响应于流过所述电动机的所述非零电流,所述半导体集成电路将从所述反电动势检测器电路产生的所述反电动势检测信号设置为第一值和第二值,其中,在进行所述校准操作时,所述半导体集成电路从作为所述第一值的所述反电动势检测信号和作为所述第二值的所述反电动势检测信号,来计算所述比较基准值,其中,所述半导体集成电路的所述调节单元通过所述校准操作来调节所述反电动势检测器电路的所述内部放大器的增益,并且反映出被调节的增益的所述反电动势检测器电路产生所述反电动势检测信号作为比较输入值,以及其中,所述半导体集成电路的所述调节单元通过所述校准操作来调节所述反电动势检测器电路的所述内部放大器的增益,以便减小所述比较输入值和所述比较基准值之差。
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