[发明专利]像素结构的制作方法有效
申请号: | 201510113199.3 | 申请日: | 2015-03-16 |
公开(公告)号: | CN106033760B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 张锡明;黄彦馀 | 申请(专利权)人: | 中华映管股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;丛芳 |
地址: | 中国台湾桃园*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种像素结构的制作方法,包含下列步骤。在基板上形成栅极。在基板以及栅极上按序形成绝缘层、金属氧化物半导体层以及金属电极层。应用多灰阶光罩微影工艺,进行下列步骤。将金属氧化物半导体层图案化为通道区与像素电极区。将金属氧化物半导体层的像素电极区导体化为像素电极。将金属电极层图案化为至少一个源极,源极位于通道区上,且通道区至少部分位于源极与像素电极之间。根据本发明的上述步骤,通道区、像素电极、与源极可以通过同一个多灰阶光罩工艺形成,因此减少了工艺中所使用的光罩数量。 | ||
搜索关键词: | 像素 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种像素结构的制作方法,其特征在于,所述制作方法包含下列步骤:在基板上形成栅极;在所述基板以及所述栅极上按序形成绝缘层、金属氧化物半导体层以及金属电极层;以及应用多灰阶光罩微影工艺,进行下列步骤:将所述金属氧化物半导体层图案化为通道区与像素电极区,所述通道区位于所述栅极上方,所述像素电极区与所述通道区相连接;将所述金属氧化物半导体层的像素电极区导体化为像素电极,并保留所述金属氧化物半导体层的另一部分为通道区;以及将所述金属电极层图案化为至少一个源极,所述源极位于所述通道区上,且所述通道区至少部分位于所述源极与所述像素电极之间,其中所述金属氧化物半导体层图案化的步骤包含:在所述金属电极层上形成光阻层;通过多灰阶光罩对所述光阻层进行图案化,以形成图案化光阻层,其中所述图案化光阻层具有多个厚度不同的区域并覆盖预计形成所述通道区与所述像素电极区的位置;以及以所述图案化光阻层为罩幕,图案化所述金属电极层与所述金属氧化物半导体层,使得所述金属氧化物半导体层成为所述通道区与所述像素电极区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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