[发明专利]ICP发光分光分析装置

摘要

公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种能够通过多个聚光部来除去存在于原子发光线周围的背景以谋求S/B比的提高的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)以及控制部(50)大致构成。聚光部(20)被配置在感应耦合等离子体发生部(10)与分光器(30)之间，具备第一聚光部(21)、第二聚光部(22)、在聚光部(20)与分光器(30)的边界部处的狭缝型入射窗(23)以及在第一聚光部(21)与第二聚光部(22)之间的入射狭缝(24)。通过设置至少两个聚光部(21、22)和入射狭缝（24），从而能够除去存在于原子发光线周围的背景以提高原子发光线的信号对背景之比(S/B)。

主权项

 一种ICP发光分光分析装置，具备：感应耦合等离子体发生部，通过感应耦合等离子体对分析对象的元素进行原子化或离子化而得到原子发光线；聚光部，对所述原子发光线进行聚光；以及分光器，在经由入射窗取入了所述原子发光线之后，进行分光来进行检测，在该ICP发光分光分析装置中，所述聚光部包括至少两个独立的第一聚光部和第二聚光部，并且在所述第一聚光部与所述第二聚光部之间设置有使通过了所述第一聚光部的所述原子发光线通过并送至所述第二聚光部的至少一个入射狭缝。