[发明专利]一种检测平面缺陷的方法

摘要

本发明提供一种用于检测平面缺陷的方法和系统。在该方法和系统中，通过在三种点光源条件下拍照，并对数据进行处理，实现了平面表面缺陷的高精度测量。

主权项

一种检测平面缺陷的方法，其特征在于，照相机的镜头轴线与待测平面的中心对齐，并且该方法包括步骤：(1)在第一光照条件下采集待测平面的第一照片，在第一光照条件下，点光源位于偏离照相机的镜头轴线的位置；(2)在第二光照条件下采集待测平面的第二照片，在第二光照条件下，点光源位于偏离照相机的镜头轴线的位置，并且点光源相对于照相机的镜头轴线的方向与第一光照条件下的点光源相对于照相机的镜头轴线的方向成60‑180度的角；(3)在第三光照条件下采集待测平面的第三照片，在第三光照条件下，点光源位于偏离照相机的镜头轴线的位置，并且点光源相对于照相机的镜头轴线的方向与第一和第二光照条件下的点光源相对于照相机的镜头轴线的方向成60‑180度的角；(4)将第一照片、第二照片和第三照片通过浮点算法转化为第一照片灰度图、第二照片灰度图和第三照片灰度图；(5)将第一照片灰度图、第二照片灰度图和第三照片灰度图在每个像素位置上的灰度数值计算平均值，并且以像素所在的横向和纵向编号为X和Y轴，以平均灰度值为Z轴绘制参考曲面图；(6)在步骤(5)所得到的参考曲面图中寻找曲面图中的局部凹陷或者抬升的区域；以及(7)寻找曲面图中的局部凹陷或者抬升的区域对应于金属表面的区域；步骤(6)中，寻找曲面图中的局部凹陷或者抬升的区域是通过以下的方法来完成的：I)将参考曲面图沿X轴方向平均划分成Nx格，沿Y轴方向平均划分成Ny格，并且赋予每个方格以X方向的坐标xi和Y方向的坐标yi；II)在各个的方格中，计算该方格中各个像素的灰度平均值，其中X方向的坐标为xi，Y方向的坐标为yi的方格的灰度平均值记录为Grey(xi,yi)；III)选定X方向的坐标为xi，Y方向的坐标为yi的方格，并且计算A(xi,yi)＝Grey(xi+1,yi+1)‑Grey(xi,yi)；以及IV)对于A(xi,yi)，计算C(xi,yi)＝[A(xi,yi)‑A(xi+1,yi+1)]*[A(xi+2,yi+2)‑A(xi+1,yi+1)]的数值是否大于零，如果在所有的方格中C(xi,yi)大于0，则判断待测金属表面不存在明显缺陷，如果在方格C(xi,yi)小于等于0.则判断金属表面在(xi，yi)位置存在明显缺陷。