[发明专利]光源单元、使用该光源单元的热辅助磁记录头、以及用于光源单元的光源在审
申请号: | 201510122148.7 | 申请日: | 2015-03-19 |
公开(公告)号: | CN106033674A | 公开(公告)日: | 2016-10-19 |
发明(设计)人: | 本田隆;高山清市;藤井隆司;岛泽幸司;野间亚树;永井义辉 | 申请(专利权)人: | 新科实业有限公司;TDK株式会社;罗姆股份有限公司 |
主分类号: | G11B5/127 | 分类号: | G11B5/127;G11B5/11;G11B5/31 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
地址: | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | 一种光源单元、使用该光源单元的热辅助磁记录头、以及用于光源单元的光源。一种光源单元,包括基板、安装在基板上的光源。所述光源包括:发射前向光的第一发射部,所述前向光在振荡状态下为激光;位于与所述第一发射部相反的一侧且发射后向光的第二发射部,所述后向光在振荡状态下为激光;以及与所述第一发射部和所述第二发射部位于不同位置的漏光部。光源还包括设置于所述基板上的光检测器,其中所述光检测器具有用于检测从所述漏光部泄漏的漏出光的光接收表面。 | ||
搜索关键词: | 光源 单元 使用 辅助 记录 以及 用于 | ||
【主权项】:
一种光源单元,包括:基板;安装至所述基板的光源,其中所述光源包括:发射前向光的第一发射部,所述前向光在振荡状态下为激光,位于与所述第一发射部相反的一侧且发射后向光的第二发射部,所述后向光在振荡状态下为激光,以及与所述第一发射部和所述第二发射部位于不同位置的漏光部;以及设置于所述基板上的光检测器,其中所述光检测器具有用于检测从所述漏光部泄漏的漏出光的光接收表面。
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