[发明专利]粗糙度光切轮廓曲线的自动检测方法及装置

摘要

本发明实施例提供了一种粗糙度光切轮廓曲线的自动检测方法及装置，其中，该方法包括利用金属氧化物半导体元件CMOS图像传感器从光切显微镜的目镜接口处获取待测试光条的表面粗糙度光切图像；对所述表面粗糙度光切图像进行二值化处理，得到二值化图像；从二值化图像中提取所述待测试光条的上边缘的轮廓曲线，其中，上边缘的轮廓曲线以离散序列形式表示。该方案实现了基于表面粗糙度光切图像自动提取待测试光条的上边缘轮廓曲线，可以提高测量光带边缘轮廓曲线的效率和精确度，进而有利于提高测量表面粗糙度的精度。

主权项

一种粗糙度光切轮廓曲线的自动检测方法，其特征在于，包括：利用金属氧化物半导体元件CMOS图像传感器从光切显微镜的目镜接口处获取待测试光条的表面粗糙度光切图像；对所述表面粗糙度光切图像进行二值化处理，得到二值化图像；从二值化图像中提取所述待测试光条的上边缘轮廓曲线，其中，上边缘轮廓曲线以离散序列形式表示；对所述表面粗糙度光切图像进行二值化处理，包括：利用类间差分割法获取分割阈值，并利用该分割阈值对所述表面粗糙度光切图像的灰度矩阵进行二值化分割，得到二值化图像，在所述二值化图像中所述待测试光条轮廓区域内的像素点的灰度值为1，所述待测试光条轮廓区域外的像素点的灰度值为0；从二值化图像中提取所述待测试光条的上边缘轮廓曲线，包括：在所述二值化图像中，从灰度值为1的像素点中删除无效的像素点，所述无效的像素点是指在以该像素点为中心的M/30范围内，该像素点的8邻域方向中至少两个方向上的像素点数目小于M/30，其中，M是所述表面粗糙度光切图像的灰度矩阵的行数；在删除无效的像素点后的二值化图像中，对于每列像素点按照行数由小到大的顺序进行逐一扫描，最先扫描到的灰度值为1的像素点记为上边缘轮廓曲线中该列的像素点，并将所述M减去当前最先扫描到的灰度值为1的像素点所在行数得到的差值，确定为上边缘轮廓曲线中该列像素点的纵坐标，并进而逐点得到整个上边缘轮廓曲线的离散序列。