[发明专利]用于测试多用户多入多出系统的系统和方法有效
| 申请号： | 201510122492.6 | 申请日： | 2015-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN106034308B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 孔宏伟;景雅;赵旭 | 申请（专利权）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在此公开用于测试多用户多入多出系统的系统和方法。用于测试待测试设备的测试系统包括：信号处理器，其配置为生成多个独立信号并且将第一衰落信道特征应用于所述独立信号中的每一个以生成多个第一衰落测试信号；测试系统接口，其配置为：将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备(DUT)的一个或多个信号输入接口；第二信号处理器，其配置为将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号以生成多个第二衰落测试信号，其中，根据第一衰落信道特征推导出第二衰落信道特征；一个或多个测试仪器，其配置为根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 多用户 多入多出 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试多入多出(MIMO)待测试设备(DUT)的方法，所述方法包括：生成多个独立上行链路信号；将对应上行链路衰落信道特征应用于所述独立上行链路信号中的每一个，以生成多个衰落独立上行链路信号；响应于至少一个控制信号有选择地将所述多个衰落独立上行链路信号连接到多个RF端口，所述多个RF端口配置为将RF信号发送到所述MIMODUT的多个输入中的至少一个；在所述多个RF端口处从所述MIMO DUT接收多个下行链路信号；将下行链路衰落信道特征应用于所述下行链路信号中的至少一个，以据此产生至少一个衰落下行链路信号；以及根据所述至少一个衰落下行链路信号测量所述MIMO DUT的至少一个性能特征。
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