[发明专利]一种倒装芯片键合设备有效
申请号: | 201510124424.3 | 申请日: | 2015-03-20 |
公开(公告)号: | CN104701199B | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 唐亮;叶乐志;周启舟;徐品烈;郎平;霍杰;刘子阳 | 申请(专利权)人: | 北京中电科电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603;H01L21/768;H01L21/677;H01L21/683 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 许静,黄灿 |
地址: | 100176 北京市经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种倒装芯片键合设备,包括芯片传输机构,所述芯片传输机构包括安装部和用于驱动所述安装部运动的驱动部,所述安装部包括多个用于放置芯片的工位;其中,通过所述安装部的运动,将位于其中一工位上的芯片从第一位置处移动至第二位置处;第一芯片抓取机构,用于抓取芯片后将所述芯片由下侧向上翻转,并在将所述芯片翻转后,将所述芯片放置在所述安装部上位于所述第一位置处的一工位上;第二芯片抓取机构,用于将所述安装部上位于所述第二位置处的工位上的芯片取出,以进行键合。本发明引入了精密的芯片传输机构,可靠性高,使得倒装芯片键合设备在不降低效率的情况下适应大尺寸基材的倒装键合,大大提高了装片精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 倒装 芯片 设备 | ||
【主权项】:
一种倒装芯片键合设备,其特征在于,包括:芯片传输机构,所述芯片传输机构包括:安装部和用于驱动所述安装部运动的驱动部,所述安装部包括多个用于放置芯片的工位;其中,通过所述安装部的运动,将位于其中一工位上的芯片从第一位置处移动至第二位置处;第一芯片抓取机构,用于抓取芯片后将所述芯片由下侧向上翻转,并在将所述芯片翻转后,将所述芯片放置在所述安装部上位于所述第一位置处的一工位上;第二芯片抓取机构,用于将所述安装部上位于所述第二位置处的工位上的芯片取出,以进行键合;其中,所述第一芯片抓取机构包括:第一芯片抓取单元,用于抓取晶片后将所述晶片放置于第一工作台上;位于第一工作台上方的第一芯片检测单元,用于检测所述晶片中芯片的位置信息;位于第一工作台下方的芯片顶起单元,用于将所述芯片向上顶起一预设高度;位于第一芯片检测单元与第一工作台之间的翻转单元,用于抓取所述芯片并将所述芯片的顶面和底面翻转;第二芯片抓取单元,位于所述第一芯片检测单元与所述翻转单元之间,用于吸附经翻转后的芯片,并将所述芯片放置在传输机构的第一位置处。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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