[发明专利]一种腔增强物质分析方法

摘要

本发明涉及一种腔增强物质分析方法。现有技术实现复杂、对被测物质要求高、灵敏度低。本发明基于有源高精度腔增强原理，将激光激励源设置在高精度腔内，在高精度腔内形成强光场；被检测物质受激光激发而发射特征光场，特征光场经过柱面镜汇聚线性光场导入光纤束中；光纤束的特性光场入射端与柱面镜汇聚光场强度分布相匹配；光纤束的特性光场出射端设置有光电探测部件，用于探测特性光场信息；在光电探测部件和激光区域之间的特征光场光路上设置有滤光附件；通过数据分析得到本检测物质信息。本发明具有系统工艺简单、机械定位要求低、便于实现、对被检测样品要求低、应用范围广、可检气态物质、灵敏度高、光能利用率高等特点。

主权项

一种腔增强物质分析方法，其特征在于包括以下步骤：步骤(1) 基于高精度腔构建原理，利用高反射率反射面构建高精细度光学谐振腔，每个反射面的反射率不低于93%；步骤(2) 将激光增益介质设置在高精细度光学谐振腔内，光增益介质和激励部件相结合，激励部件对光增益介质进行激励，在高精细度光学谐振腔内形成稳定的激光光场，实现有源高精细度谐振腔；步骤(3) 被检测物质设置在高精度腔内的激光光束区域，被检测物质受激光激发而发射特征光场；步骤(4) 在设置有被检测物质的激光光束区域的侧面设有柱面镜，柱面镜无曲率变化的纵向方向与激光光束的夹角小于20度，在柱面镜的焦线区域设置有光纤束的一端，特征光场经过柱面镜汇聚线性光场导入光纤束中，光纤束的特性光场入射端的光纤端面排列成长条形，与柱面镜汇聚光场强度分布相匹配；步骤(5) 光纤束的特性光场出射端设置有光电探测部件，用于探测特性光场信息；在光电探测部件和激光光束区域之间的特征光场光路上设置有滤光部件；通过数据分析得到本检测物质信息。