[发明专利]可编程逻辑控制器的RAM的检查方法以及可编程逻辑控制器

摘要

本发明涉及一种可编程逻辑控制器的RAM的检查方法以及可编程逻辑控制器。该可编程逻辑控制器的RAM检查方法能够用几分钟左右实施成为检查对象的RAM检查区域内的全部的单位存储区域的检查，并且能够满足规定的安全标准。该检查方法具有写入读出步骤，在该写入读出步骤中，使用控制装置针对将从多个块中提取出的两个块组合而成的组合块内的各单位存储区域，写入了规定值之后，顺序检查从该单位存储区域读出的值是否与写入的值一致，针对从已分割的多个块中提取出两个块而组成的全部组合执行所述写入读出步骤，其中，所述块是将RAM的成为检查对象的区域即RAM检查区域分割成多个而成的。

主权项

1.一种可编程逻辑控制器的RAM的检查方法，具有写入读出步骤，在该写入读出步骤中，将RAM的成为检查对象的区域即RAM检查区域分割成多个块，并使用控制装置针对将从已分割的所述块中提取出的两个块组合而成的组合块内的各单位存储区域，写入了规定值之后，顺序检查从该单位存储区域读出的值是否与写入的值一致，其特征在于，针对从已分割的多个所述块中提取出两个块而组成的全部组合执行所述写入读出步骤，在所述RAM设置有与所述RAM检查区域不同的区域即RAM暂时移存区域，所述块内的单位存储区域的个数被设定为所述RAM暂时移存区域的单位存储区域的个数的1/2以下，所述控制装置在将提取出的所述组合块内的各单位存储区域的值存储至所述RAM暂时移存区域之后，执行所述写入读出步骤，在执行了所述写入读出步骤之后将存储至所述RAM暂时移存区域的值写回至原来的所述组合块内的各单位存储区域，在所述RAM的检查之后再现并维持所述RAM的检查之前存储至所述RAM检查区域的值。