[发明专利]一种电器性能指标测试方法及装置有效
| 申请号： | 201510128171.7 | 申请日： | 2015-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN104749462B | 公开（公告）日： | 2018-04-27 |
| 发明（设计）人： | 刘华中 | 申请（专利权）人： | 广东小天才科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 523860 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于电子测试领域，尤其涉及一种电器性能指标测试方法及装置。在本发明中，分别对被测设备的主板电压和通过测试线的线端电压进行测试，并且以将主板电压调整到预定主板电压为准，对被测设备进行调整，测试通过测试线的充电电流，这样的测试结果不会受到长短不同的测试线导致的压降不同的影响，从而提高了测试的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电器 性能指标 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电器性能指标测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：测试被测设备的主板电压；测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流，采用长短不同的测试线，都不会导致通过测试线的充电电流不同；对所述被测设备进行调整具体依据如下公式：I＝(U1‑U2)*S/ρL其中，U1为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、ρ为测试线电阻率、L为测试线长度。
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