[发明专利]载人航天器密封舱体漏率设计方法在审

专利信息
申请号: 201510132873.2 申请日: 2015-03-25
公开(公告)号: CN105095638A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 李兴乾;魏传锋;张伟;吴冰;李喆 申请(专利权)人: 北京空间技术研制试验中心
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种载人航天器密封舱体漏率设计方法,用于覆盖在轨飞行全过程。该方法包括:步骤一,根据在轨飞行全过程中的各飞行阶段的任务时间要求以及泄露补偿气体重量,计算载人航天器密封舱的密封舱体的质量泄漏量;步骤二,根据质量泄漏量,计算密封舱体的标准漏率指标;以及步骤三,对标准漏率指标执行工程工艺检验与迭代,以确定满足预定要求的密封舱体漏率指标。因此,通过本发明的密封舱体漏率设计方法可覆盖载人航天器全任务阶段的气体泄漏补偿要求,充分利用理想气体状态方程的理论基础,考虑了飞行任务规划、系统重量控制、产品工艺实现等多方面设计约束,从而解决了载人航天器从顶层飞行任务需求到具体密封舱体漏率指标实现的难题。
搜索关键词: 载人 航天器 密封 舱体漏率 设计 方法
【主权项】:
一种载人航天器密封舱体漏率设计方法,用于覆盖在轨飞行全过程,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,根据所述在轨飞行全过程中的各飞行阶段的任务时间要求以及泄露补偿气体重量,计算载人航天器密封舱的密封舱体的质量泄漏量;步骤二,根据所述质量泄漏量,计算所述密封舱体的标准漏率指标;以及步骤三,对所述标准漏率指标执行工程工艺检验与迭代,以确定满足预定要求的密封舱体漏率指标。
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