[发明专利]用于相变存储器的Zr‑Sb‑Te系列相变材料及其制备方法有效
申请号: | 201510136878.2 | 申请日: | 2015-03-26 |
公开(公告)号: | CN104831235B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 宋志棠;郑勇辉;成岩;刘卫丽;宋三年;朱敏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | C23C14/14 | 分类号: | C23C14/14;H01L45/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种用于相变存储器的Zr‑Sb‑Te系列相变材料及其制备方法,所述Zr‑Sb‑Te系列相变材料的化学式为Zr100‑x‑ySbxTey,其中0<100‑x‑y<20,0.5≤x/y≤4。本发明的用于相变存储器的Zr‑Sb‑Te系列相变材料具有较好的结晶速度及较高的沉积态稳定性,其在电脉冲作用下可以实现可逆相变,相变前后有电阻高低差异之分,差值较大,可以分辨出“0”、“1”,其中Set电压脉冲宽达到100ns,Reset电压脉冲宽度达到10ns,循环次数达到104,是一种较为理想的相变材料,可用于制作相变存储器单元。所述Zr‑Sb‑Te系列相变材料可采用多种方法制备,其中磁控溅射法比较灵活,可以方便制得组分可调、质量较高的Zr100‑x‑ySbxTey复合薄膜。 | ||
搜索关键词: | 用于 相变 存储器 zr sb te 系列 材料 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于相变存储器的Zr‑Sb‑Te系列相变材料,其特征在于,所述Zr‑Sb‑Te系列相变材料的化学式为Zr100‑x‑ySbxTey,其中0<100‑x‑y<20,0.5≤x/y≤4。
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