[发明专利]半导体处理设备有效
申请号: | 201510137717.5 | 申请日: | 2015-03-26 |
公开(公告)号: | CN106148918B | 公开(公告)日: | 2018-08-07 |
发明(设计)人: | 奚明;吴红星;胡兵;黄占超;马悦 | 申请(专利权)人: | 理想晶延半导体设备(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/513 | 分类号: | C23C16/513;C23C16/455;H01J37/32;H01L21/67 |
代理公司: | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人: | 黄海霞 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及半导体处理技术领域,特别涉及一种半导体处理设备。本发明的半导体处理设备通过特别的反应腔设计,使得所述反应腔既能用于执行原子层沉积工艺又能用于执行等离子体化学气相沉积工艺,还能执行衬底在位表面处理,从而可以减少半导体处理设备的数量,降低成本,减少设备的占用空间;同时,由于多个工艺可以在同一腔室中完成,无需附加的转运过程,从而可以减少待处理衬底被污染的发生。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 设备 | ||
【主权项】:
1.一种半导体处理设备,其用于连续进行原子层沉积和等离子增强化学气相沉积;所述半导体处理设备包括反应腔和射频发生器;所述反应腔包括腔体和设置在所述腔体内的气体分配装置和衬底托盘;所述衬底托盘与所述气体分配装置相对设置并限定反应空间,反应气体从所述气体分配装置输出到所述反应空间;所述射频发生器用于在所述反应空间形成等离子体;其特征在于:所述半导体处理设备还具有升降装置,可以改变衬底托盘与所述气体分配装置出气面的相对距离;所述气体分配装置包括面向所述衬底托盘的出气面,所述出气面包括至少一个第一出气口和至少一个第二出气口;当所述半导体处理设备进行原子层沉积时,第一反应气体和第二反应气体通过所述气体分配装置交替地通入到所述反应空间中,从而对支撑在衬底托盘上的衬底进行原子层沉积处理;当所述半导体处理设备进行等离子增强化学气相沉积时,一种或一种以上反应气体同时通过所述气体分配装置进入所述反应空间,所述射频发生器在所述反应空间形成等离子体,从而对支撑在衬底托盘上的衬底进行等离子增强化学气相沉积处理。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的