[发明专利]激光二维样板测量仪校准方法在审
申请号: | 201510138276.0 | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN104748682A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 刘洪霞;李锋 | 申请(专利权)人: | 沈阳飞机工业(集团)有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 沈阳杰克知识产权代理有限公司21207 | 代理人: | 孙玲 |
地址: | 110034 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及一种激光二维样板测量仪校准方法,包括以下步骤1)设置量块夹具;2)选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块;3)分别采用不同长度的量块依次放在水平线Ⅰ、斜线Ⅱ、斜线Ⅲ和竖直线Ⅳ上进行扫描,通过软件计算量块尺寸测得值;4)然后将量块夹具水平翻转,再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线Ⅴ、斜线Ⅵ和斜线Ⅶ,再次进行扫描,通过软件计算量块尺寸测得值;5)将得到的量块的轮廓线与实际量块的长度进行比对,评判测量仪是否合格。该方法填补了此项工作领域的空白,不但提高了工作能力,每年为公司节省了外送检定的费用,更为公司的生产进度做出计量保证。 | ||
搜索关键词: | 激光 二维 样板 测量仪 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种激光二维样板测量仪校准方法,其特征在于包括以下步骤:1)设置量块夹具:在量块夹具上设置四条直线,利用水平翻转夹具满足量块在空间7个位置上的测量,其中包括为两条竖直线Ⅳ和竖直线Ⅴ,一条水平线Ⅰ,与水平线Ⅰ成30度角的斜线Ⅱ、与水平线Ⅰ成45度角的斜线Ⅲ,与水平线Ⅰ成150度角的斜线Ⅵ和与水平线Ⅰ成135度角的斜线Ⅶ;2)选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块;3)分别采用不同长度的量块依次放在水平线Ⅰ、斜线Ⅱ、斜线Ⅲ和竖直线Ⅳ上,当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时,激光二维样板测量仪开始沿零件的下端向上端扫描,水平线Ⅰ从一端扫描至另一端,并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线,通过软件计算量块尺寸测得值;4)然后将量块夹具水平翻转,再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线Ⅴ、斜线Ⅵ和斜线Ⅶ,当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时,激光二维样板测量仪开始沿零件的上端到下端扫描,并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线,通过软件计算量块尺寸测得值;5)将得到的量块的轮廓线与实际量块的长度进行比对,误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差,计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差,即可合格。
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