[发明专利]一种基于GPIB总线的通用自动测试设备在审
| 申请号： | 201510140341.3 | 申请日： | 2015-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN106160881A | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 王浩;王刚 | 申请（专利权）人： | 江苏艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212009 江苏省镇江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于GPIB总线的通用自动测试设备，包括计算机、中央处理器、接口适配器和被测设备，所述被测设备通过接口适配器连接测试仪器，每一所述测试仪器的一端均连接所述中央处理器，每一所述测试仪器的另一端连接接口适配器，所述中央处理器与计算机交互信息。本发明利用GPIB总线和测试仪器对通用设备的射频性能进行自动测试，使用方便，能提高通用设备的研发与生产的进度，系统形成后无需人为参于，可以节约更多的人力成本，为通用设备的性能指标的验证提供了很好的解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 gpib 总线 通用 自动 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种基于GPIB总线的通用自动测试设备，其特征在于，包括计算机、中央处理器、接口适配器和被测设备，所述被测设备通过接口适配器连接测试仪器，每一所述测试仪器的一端均连接所述中央处理器，每一所述测试仪器的另一端连接接口适配器，所述中央处理器与计算机交互信息。
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