[发明专利]一种干涉图像中不均匀直流分量的校正方法有效

专利信息
申请号: 201510146081.0 申请日: 2015-03-30
公开(公告)号: CN104766281B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 林军;李运伟;喻文勇;宋超宇 申请(专利权)人: 中国资源卫星应用中心
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 中国航天科技专利中心11009 代理人: 陈鹏
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种干涉图像中不均匀直流分量的校正方法,首先根据干涉型成像光谱仪数据特点对干涉数据进行分段处理;然后对双边采样干涉数据采用滑动均值法结合对称均值进行处理,得到干涉数据直流分量数据曲线,对单边采样干涉数据采用滑动均值法求解干涉数据直流分量数据曲线;最后对原有干涉数据与整个直流分量数据曲线作差,得到新的干涉信息。本发明方法与现有技术相比,可以对干涉图像中不均匀的直流分量进行严格的校正,保证整个干涉图像处理的精度,运算简便、稳定、高效,很好的满足了干涉型成像仪数据处理的运算效率和精度需求。
搜索关键词: 一种 干涉 图像 不均匀 直流 分量 校正 方法
【主权项】:
一种干涉图像中不均匀直流分量的校正方法,其特征在于包括如下步骤:(1)对干涉型成像光谱仪测量得到每一帧干涉数据进行分段,得到双边采样干涉数据和单边采样干涉数据;(2)设定双边采样干涉数据的滑动窗口宽度,并根据双边采样干涉数据的滑动窗口宽度计算对称处理前双边采样干涉数据中m个数据点的直流分量数据值Tj为当j<=0.5n时,当0.5n<j<m‑0.5n时,当m>=j>=m‑0.5n时,其中,n为双边采样干涉数据的滑动窗口宽度,j=1,2,…m,m为双边采样干涉数据点数,Xi为干涉数据中第i个数据点的干涉数据值,i=1,2,…m;(3)对双边采样干涉数据中m个数据点的直流分量数据值进行处理,得到双边采样干涉数据中m个数据点的直流分量数据值为其中,Tj0为第j个数据点相对于零光程差位置对称点的直流分量数据值;(4)设定单边采样干涉数据的滑动窗口宽度n’,并根据单边采样干涉数据的滑动窗口宽度n’计算单边采样干涉数据中m’个数据点的直流分量数据值Trj为当m<j<=m+0.5n'时,当m+0.5n'<j<m+m'‑0.5n'时,当j>=m+m'‑0.5n'时,其中,n’为单边干涉数据的滑动窗口宽度,j=m+1,m+2,…m+m’;m’为单边采样干涉数据点数,Xi为干涉数据中第i个数据点的干涉数据值,i=m+1,m+2,…m+m’;(5)计算得到第j个点处理后的干涉数据为Ij=Xj‑Trj,其中,j=1,2,…k,k=m+m’为一帧干涉数据中干涉数据点数,当j=1,2,…m时,Xj为双边采样干涉数据中第j个数据点的干涉数据值,Trj为双边采样干涉数据中m个数据点的直流分量数据值,当j=m+1,m+2,…m+m’时,Xj为单边采样干涉数据中第j个数据点的干涉数据值,Trj为单边采样干涉数据中m’个数据点的直流分量数据值。
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