[发明专利]垂直晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201510147785.X 申请日: 2015-03-31
公开(公告)号: CN106158935B 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 卡洛斯·H.·迪亚兹;王志豪;连万益;杨凯杰;汤皓玲 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/732 分类号: H01L29/732;H01L21/331
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 垂直晶体管包括源极‑沟道‑漏极结构、栅极和栅极介电层。源极‑沟道‑漏极结构包括源极、源极上方的漏极和介于源极和漏极之间的沟道。栅极围绕沟道的一部分。当垂直晶体管是n沟道垂直晶体管时,栅极被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的压缩应变,或当垂直晶体管是p沟道垂直晶体管时,栅极被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的拉伸应变。在一些实施例中,垂直晶体管还包括ILD,当垂直晶体管是n沟道垂直晶体管时,ILD被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的拉伸应变,或者当垂直晶体管是p沟道垂直晶体管时,ILD被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的压缩应变。本发明还提供了垂直晶体管的制造方法。
搜索关键词: 垂直 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种垂直晶体管,包括:源极‑沟道‑漏极结构,包括源极、位于所述源极上方的漏极和介于所述源极和所述漏极之间的沟道;栅极,围绕所述沟道的一部分,当所述垂直晶体管是n沟道垂直晶体管时,所述栅极被配置成提供沿着所述沟道的延伸方向的压缩应变,或当所述垂直晶体管是p沟道垂直晶体管时,所述栅极被配置成提供沿着所述沟道的所述延伸方向的拉伸应变;以及栅极介电层,介于所述沟道和所述栅极之间。
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