[发明专利]垂直晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201510147785.X | 申请日: | 2015-03-31 |
公开(公告)号: | CN106158935B | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 卡洛斯·H.·迪亚兹;王志豪;连万益;杨凯杰;汤皓玲 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/732 | 分类号: | H01L29/732;H01L21/331 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 垂直晶体管包括源极‑沟道‑漏极结构、栅极和栅极介电层。源极‑沟道‑漏极结构包括源极、源极上方的漏极和介于源极和漏极之间的沟道。栅极围绕沟道的一部分。当垂直晶体管是n沟道垂直晶体管时,栅极被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的压缩应变,或当垂直晶体管是p沟道垂直晶体管时,栅极被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的拉伸应变。在一些实施例中,垂直晶体管还包括ILD,当垂直晶体管是n沟道垂直晶体管时,ILD被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的拉伸应变,或者当垂直晶体管是p沟道垂直晶体管时,ILD被配置成提供基本沿着沟道的延伸方向的压缩应变。本发明还提供了垂直晶体管的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 垂直 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种垂直晶体管,包括:源极‑沟道‑漏极结构,包括源极、位于所述源极上方的漏极和介于所述源极和所述漏极之间的沟道;栅极,围绕所述沟道的一部分,当所述垂直晶体管是n沟道垂直晶体管时,所述栅极被配置成提供沿着所述沟道的延伸方向的压缩应变,或当所述垂直晶体管是p沟道垂直晶体管时,所述栅极被配置成提供沿着所述沟道的所述延伸方向的拉伸应变;以及栅极介电层,介于所述沟道和所述栅极之间。
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