[发明专利]一种岩石纳米CT的孔隙标定方法有效
| 申请号： | 201510161929.7 | 申请日： | 2015-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN104729971B | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 唐明明;卢双舫;梁宏儒;燕贲惠;沈珊 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（华东） |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司11385 | 代理人： | 董芙蓉 |
| 地址： | 266580 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种岩石纳米CT的孔隙标定方法，该方法包括SEM与CT扫描区域标定带制作；岩样顶面SEM扫描；CT扫描；SEM扫描结果孔隙标定；利用SEM标定出的孔隙去标定CT顶面层的孔隙阈值Th。当获取了SEM标定的CT顶面层孔隙阈值Th后，根据Th标定CT的其余孔隙空间。本发明将SEM实验数据和纳米CT方法结合起来，用SEM的结果去进一步标定纳米CT的结果，利用SEM高精度图片标定后的CT数据，孔隙空间清晰，与直接观察法得到的SEM结果一致。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 岩石 纳米 ct 孔隙 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种岩石纳米CT的孔隙标定方法，其特征在于，所述的岩石纳米CT的孔隙标定方法包括：步骤一、根据SEM仪器和CT仪器对样品的具体要求，制作SEM与CT扫描区域标定带，标定带的中央有一个定位孔，为纳米CT的钻样孔；步骤二、将标定带绑缚在SEM样品上，定位孔露出待扫描区域，在岩样顶面SEM扫描过程中，采用逐级放大方式，定位到定位孔区域，对定位孔区域的岩石表面进行扫描；步骤三、岩样顶面SEM扫描完成后，将样品取出，放入CT钻样机内，取出定位孔区域的岩样；步骤四、根据岩样顶面SEM扫描结果，标定出孔隙；步骤五、利用SEM标定出的孔隙去标定定位孔区域岩样CT顶面层的孔隙阈值Th，当获取了SEM标定的CT孔隙阈值Th后，根据Th标定定位孔区域岩样CT的其余非顶面孔隙空间。
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